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商品名称:X射线荧光光谱仪EDX-LE/EDX-GP/EDX-720
 
 X射线荧光光谱仪EDX-LE/EDX-GP/EDX-720
  商品编号: 20131231898
  商品规格:
  商品品牌: Shimadzu
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  商品库存: 1台 热卖中
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简单介绍

 

EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,最近几年在众多企业中实施


 

X射线荧光分析仪EDX-LE的详细介绍

X射线荧光分析仪(能量色散型)EDX-LE仪器特点
1.无需液氮

针对外检等可对多数产品以管理值为标准检测有害元素含量是否达标而使用的筛选分析,被进一步要求其提高现场操作性和降低运行成本。而EDX-LE就是为了应对这种需求开发出来的装置。
   
   

配备无需液氮型检测器

由于配备了无需液氮进行冷却的检测器,因此大幅削减了使用时的运行成本。
 


自动老化功能
X射线光管自动老化功能

为延长X光管的寿命而进行的光管老化(稳定性运转)是装置管理上必不可缺的。在装置长期不运行的情况下,再次启动时需要对X射线光管进行老化处理,而该装置可自动执行该功能以防故障发生,进而提高操作性。


测试前的装置自检功能

为了随时得到准确的分析结果装置需要进行校正,而用户们希望尽可能在短时间内完成校正时的操作和判定。EDX-LE在开启仪器后会对能量校正和定量值校正的操作进行帮助,当需要进行校正时会自动进行校正。
 


装置自检功能

2.筛选功能
配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能
 
尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化,可进行RoHS法规5元素+氯元素(选配)的高速筛选分析。EDX-LE从开始分析到得到结果只需要(根据样品)约1分钟。不仅可进行高速筛选分析,同时维持了高可信性的分析水平
   
   
简洁的高精度筛选分析

电源ON之后只需15分钟的稳定时间就可开始分析。
当对象元素含量合格与否的判定确认后,为缩短时间装置会自动停止测定,但该仪器也可进行高灵敏度、高可信性的分析。装置内置有1点工作曲线可进行无标样的定量分析。
下图为塑胶材料(PVC材料包裹的线材)的测定实例。管理标准简单的显示为OK、NG、灰色区域。 *本实例的管理标准设定为RoHS法规最大允许浓度标准。

 

3.测试步骤

操作简便,一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断,现在改由装置自动判断,即使初学者也可简便·高精度地测定。

 
1st Step
放置样品
将样品放在分析位置,利用样品图像观察装置确认分析位置。
选择分析区域。
关闭样品室。
 
2nd Step
选择分析条件/输入样品名称
一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。
点击开始。
3rd Step
4.结果自动判断

只需1次点击,便可根据预先登录的分析条件,
自动执行从测定到结果的一系列操作。

 
■ 校准曲线自动选择功能

5.配备

EDX-LE标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,就可以获得最佳RoHS/ELV/无卤素分析系统。
 
标准配置改变照射直径的准直器&样品图像观察组件

测定异物或者测定包含多个部位的样品时,通过样品图像观察组件在观察样品的同时,可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时,可以使用准直器,更改X射线照射区域。
(3, 5, 10 mmφ)


10mmφ图像(塑胶)
 
3mmφ(金属)
 
 

形状校正功能

即使含量相同的样品,在形状和厚度不同时,X射线强度将发生变化,得到的定量值也会受到影响,EDX-LE通过使用BG内标法*,可以排除形状和厚度的影响,取得高精度结果。
BG内标法
通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。
 
测定结果列表管理
创建列表功能
已保存数据可以用Excel形式列表显示。
6.超大样品腔
超大样品室可以对应各种样品形态及大小。
 

采用超大样品室

最大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品,令紧凑型机身望尘莫及。

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介绍

X射线荧光分析仪EDX-GP是最适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧X射线荧光分析装置EDX-GP光分析装置。   第一次使用EDX-GP,也能轻松操作,操作简便且以更高的精度进行微量分析,达到最高灵敏度与最佳分辨率的完美结合。   EDX-GP标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,使可以获得最佳RoHS/ELV/无


 

 

X射线荧光分析仪EDX-GP的详细介绍

 




EDX-GP是最适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。

  第一次使用,也能轻松操作,操作简便且以更高的精度进行微量分析,达到最高灵敏度与最佳分辨率的完美结合。

 

  标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,使可以获得最佳RoHS/ELV/无卤素分析系统.

测试步骤:

 

操作简便,一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断,现在改由装置自动判断,即使初学者也可简便·高精度地测定。

 
1st Step
放置样品
将样品放在分析位置,利用样品图像观察装置确认分析位置。
选择分析区域。
关闭样品室。
 
2nd Step
选择分析条件/输入样品名称
一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。
点击开始。
3rd Step
显示分析结果
测定结束后,画面上将清楚显示5种元素的[合格判定]、[含量]、[3σ(测定偏差)]。
点击即可显示[结果列表]或[创建报告书]。

只需1次点击,便可根据预先登录的分析条件,
自动执行从测定到结果的一系列操作。

 
■ 校准曲线自动选择功能
不含有害元素时,测定过程中能够判定结果时,即自动终止测定,缩短分析时间。
 
省时功能

不含有害元素时

不含有害元素时,测定过程中能够判定结果时,即自动终止测定,缩短分析时间。
■ 适用省时功能的缩短时间示例

 

含量低于检出下限值时,判断不含有,测定自动结束。上述样品中Pb、Cd的含量均低于检出下限,与设定的200秒(=100秒+100秒)分析时间相比,仅用了50秒(=25秒+25秒)即结束分析,大幅度节约了时间。

 
有害元素含量高时

由设定的目标管理精度自动决定测定时间。
在测定精度达到管理值时结束测定。

■ 适用省时功能的缩短时间示例

测定高浓度元素时,在比设定的测定时间更短的时间内即可获得高强度,而且误差变小,由此可以大幅缩短时间。上述样品中Pb:7600ppm、Cd:52ppm,设定的分析时间为200秒(=100秒+100秒),实际仅用了40秒(=15秒+25秒)即结束分析,大幅度节约了时间。

EDX-GP标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,就可以获得最佳RoHS/ELV/无卤素分析系统。
 
标准配置改变照射直径的准直器&样品图像观察组件

测定异物或者测定包含多个部位的样品时,通过样品图像观察组件在观察样品的同时,可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时,可以使用准直器,更改X射线照射区域。
(1, 3, 5, 10 mmφ)


10mmφ图像(塑胶)
 
3mmφ(金属)
 
 

形状校正功能

即使含量相同的样品,在形状和厚度不同时,X射线强度将发生变化,得到的定量值也会受到影响,EDX-GP通过使用BG内标法*,可以排除形状和厚度的影响,取得高精度结果。
BG内标法
通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。
 
测定结果列表管理
创建列表功能
已保存数据可以用Excel形式列表显示。
超大样品室可以对应各种样品形态及大小。
 

采用超大样品室

最大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品,令紧凑型机身望尘莫及。

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产品简介:

迅速测定ppm级的有害金属!
应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,保证产品和用料的绿色环保。
X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。特别是最近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求,畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。


技术参数:

EDX-720/800HS/900HS配备自动开关式大型样品室,可放入最大300mmφ×150mmH的样品。
标准配备从薄膜分析到有机分析的定量分析软件。
标准配备无需标准样品的含量匹配软件。
标准配备实现高灵敏度分析的5种滤光片。可提高氯(Cl)、镉(Cd)等的检测灵敏度。
结构紧凑的台式机,主机尺寸为W580×D650×H420mm。
样品图像观察采用CCD装置,便于观察样品位置。特别有助于确认微小部分的分析位置。

介绍
X射线荧光光谱仪EDX-720 迅速测定ppm级的有害金属! 应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。 应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,保证产品和用料的绿色环保。 X射线荧光光谱仪EDX-720是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛

X射线荧光光谱仪EDX-720的详细介绍



X射线荧光光谱仪(能量色散型)
EDX-720的新功能:
EDX-2.jpg 更高灵敏度的新型能量色散型X射线荧光分析装置!

在所有机型上配备全新的测定·解析功能!追求更高的分析精度。

通过配置新型1次滤光片和高计数电路,灵敏度比以往机型提高2倍以上!
  配备新型1次滤光片
  为提高Cd、Pb等有害重金属的检测灵敏度,采用2 种新型滤光片。通过提高S/N比、降低散射线,得到了比以往机型更高的灵敏度。
  计数系统的改进
  经过改进,系统能够更高效地检测从样品产生的X射线荧光。以此降低了检测器的饱和,可进行较以往机型更高输出的测定。并有助于提高分析精度。

EDX-3.jpg
                                                   PVC 树脂样品的测定结果比较

根据目的自动选择符合测定时间、样品类型的工作曲线!

  时间缩短的功能
  通过在测定前预先设定目标管理精度,当达到管理值时,自动结束测定。特别是在目标元素含量较高时,可在短时间内自动结束测定。既提高了分析效率,又无需以往根据经验设定测定时间,就可得到目的精度的分析结果,因此,便于管理。 EDX-4.gif

在测定前输入目的精度

  工作曲线自动选择功能
  使用工作曲线法进行定量时,需要使用与实际样品具有相近组成/形态的标准样品制作工作曲线。根据主成分峰的差异,判断样品类型,选择最适合的工作曲线,进行定量。
  比如,在PVC树脂和PE树脂分析中,通过监测有无Cl,对每一样品自动选择最适合的工作曲线。
EDX-5.gif
 
   
>> EDX-720/800HS/900HS配备自动开关式大型样品室,可放入最大300mmφ×150mmH的样品。
>> 标准配备从薄膜分析到有机分析的定量分析软件。
>> 标准配备无需标准样品的含量匹配软件。
>> 标准配备实现高灵敏度分析的5种滤光片。可提高氯(Cl)、镉(Cd)等的检测灵敏度。
>> 结构紧凑的台式机,主机尺寸为W580×D650×H420mm。
>> 样品图像观察采用CCD装置,便于观察样品位置。特别有助于确认微小部分的分析位置。

 
紫外分光光度计 UV-2600, UV-2700
紫外-可见-近红外分光光度计 SolidSpec-3700
紫外可见分光光度计 UVmini-1240
紫外可见分光光度计 UV-1800
超快速液相色谱仪Nexera UHPLC/HPLC System
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